在使用i1profiler做icc文件的时候,很多时候需要做平均测量。也就是测量同一条件下输出的色表,多次测量,得到多个文件,将文件测量值进行平均后再制作icc特性文件,已达到更加准确客观的目的。

 

其实i1profiler具备了这样平均的功能,只是很多时候被忽略掉了。

 

简述下方法是:

1、启动i1profiler的高级模式;

2、打开测量界面,载入已经测量好的数据文件;

3、在资产界面,按住shift或者Ctrl键进行多个文件的选择;

4、丢入测量界面,软件自动平均。

 

实际操作如下:

 

 

 

有其他问题,联系

010-57621035

 

发表评论

电子邮件地址不会被公开。 必填项已用*标注

This site uses Akismet to reduce spam. Learn how your comment data is processed.