在使用i1profiler做icc文件的时候，很多时候需要做平均测量。也就是测量同一条件下输出的色表，多次测量，得到多个文件，将文件测量值进行平均后再制作icc特性文件，已达到更加准确客观的目的。
其实i1profiler具备了这样平均的功能，只是很多时候被忽略掉了。
简述下方法是：
1、启动i1profiler的高级模式；
2、打开测量界面，载入已经测量好的数据文件；
3、在资产界面，按住shift或者Ctrl键进行多个文件的选择；
4、丢入测量界面，软件自动平均。
实际操作如下：
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